Quedan solo dos meses más de plazo para que los filatelistas
habilitados puedan entregar, a los respectivos comisionados nacionales, sus
solicitudes de inscripción para la exposición
mundial FIP Nueva York 2016
(WSS-NY 2016), que tendrá lugar en Nueva York (Jacob Javits Convention
Center) del 28 de mayo al 4 de junio del próximo año.
En la nota QUIÉNES SON NUESTROS COMISIONADOS PARA LA WSS-NY 2016,
ya tuvimos la oportunidad de divulgar, en una tabla específica, los nombres de
cada uno que representa a países del área de la FIAF. Por otro lado, sus
respectivas direcciones para contacto (tanto la postal como la electrónica)
constan en el Boletín de la exposición y en el sitio web oficial.
A propósito, los comisionados nacionales ya están recibiendo, del
Comité Organizador de la WSS-NY 2016, copias impresas del referido
Boletín, para su envío a los expositores interesados.
Como esta exposición será una de más grandes de los últimos tiempos
(prevista para 4 mil marcos expositivos, lo que representa cerca de 1.800
marcos más de lo que se verá en Singapore
2015 y en Philatapei 2016, por
ejemplo), unido al hecho de que se llevará a cabo en nuestro continente,
aumentan las perspectivas de que la participación de colecciones americanas
(temáticas, en particular) sea más expresiva.
Conforme ya habíamos señalado en otra oportunidad, aunque el plazo
para que las solicitudes de inscripción se presenten ante el Comité Organizador
sea el 30 de agosto próximo, varios comisionados nacionales están indicando la
fecha 15 de agosto para que los
formularios, acompañados de las hojas introductorias o del plan, estén en sus
manos, para el debido análisis antes del envío de toda la documentación al
Comité Organizador.
Les recordamos que el costo de cada marco
expositivo será de US$ 95 (noventa y cinco dólares norteamericanos), y de US$
150 para las colecciones en la clase Un Marco.
Hasta
el 30 de diciembre del año en curso se dará a conocer, a cada comisionado
nacional, la lista con las colecciones de cada país aceptadas para Nueva York.
